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인텍플러스, 평판 패널 검사방법 관련 美특허 취득

입력 2016-07-08 10:34:45 | 수정 2016-07-08 10:34:45
인텍플러스는 8일 평판 패널을 검사하는 방법에 관한 미국 특허를 취득했다고 8일 공시했다.

사측은 "각 화소의 회로 패턴을 검사하는 방법(박막트랜지스터의 전극라인과 신호라인의 선폭 또는 패턴 간격 등의 치수를 측정하여 불량 여부를 검사하는것)에 관한 것"이라고 설명했다.

채선희 한경닷컴 기자 csun00@hankyung.com

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